%0 Journal Article
%T An芍lisis de perfiles de difracci車n de rayos X de dos materiales met芍licos X-Ray diffraction peak analysis of two metallic materials
%A Claudio Aguilar
%A Danny Guzman
%A Carlos Iglesias
%J Revista Latinoamericana de Metalurgia y Materiales
%D 2013
%I Universidad Sim車n Bol赤var
%X En el presente trabajo se hace una revisi車n de dos m谷todos sencillos de an芍lisis de perfiles de difracci車n de rayos x, debido a que son una poderosa herramienta para la caracterizaci車n de la estructura de los materiales. Se analizan y discuten los m谷todos tradicionales y modificados de Williamson-Hall y Warren Averbach con sus modelos de deformaci車n. Tambi谷n se discuten los m谷todos para obtener la probabilidad de fallas de apilamiento, energ赤a de falla apilamiento, factores de contraste de dislocaciones promedio y funciones de distribuci車n de tama os de cristalitas. Finalmente, como ejemplo, los m谷todos son aplicados a dos materiales, una aleaci車n Cu-5% en masa de Cr procesada por aleado mec芍nico y a un acero al manganeso obtenido por fusi車n convencional y sometido a diferentes grados de compresi車n en fr赤o. The present work it is make a to review of the simplified methods of the X-ray diffraction peak profile analysis of as a powerful tool for the characterization of the structure of polycrystaline materials and to show an example of use of that methods. The considered methods are those of the traditional and modified Williamson-Hall and Warren-Averbach methods. The use of these methods for obtains stacking fault probability, dislocation contrast factors and crystallite size distribution is shown. The methods are applied to a Cu-5 wt.% Cr processed by means mechanical alloying and to a manganese steel obtained by means conventional melting and cold deformed in compression.
%K DRX
%K Warren-Averbach modificado
%K Williamson-Hall modificado
%K aleado mec芍nico
%K XRD
%K modified Warren-Averbach method
%K modified Williamson-Hall method
%K mechanical alloying
%U http://wwww.scielo.org.ve/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0255-69522013000100003