%0 Journal Article
%T Sistema Experimental para el Estudio de Microdeformaciones Mec芍nicas Mediante Anisotrop赤a 車ptica Inducida
%A Carlos H. Saucedo-Z芍rate
%A M芍ximo L車pez-L車pez
%A Carlos S芍nchez-L車pez
%A Jorge A. Huerta-Ruelas
%J Ingenier赤a mec芍nica, tecnolog赤a y desarrollo
%D 2010
%I Sociedad Mexicana de Ingenier赤a Mec芍nica
%X Existe en la actualidad un inter谷s tanto cient赤fico como tecnol車gico en evaluar el desempe o mec芍nico de materiales por medios no invasivos y no destructivos. En este art赤culo presentamos el desarrollo de un arreglo experimental multifuncional para obtener el estado de esfuerzo/deformaci車n en diversos materiales, tales como; heteroestructuras semiconductoras, materiales compuestos, aleaciones, entre otros. El prop車sito principal es la caracterizaci車n del estado esfuerzo/deformaci車n de materiales dentro del r谷gimen el芍stico, a trav谷s de mediciones de reflectancia anisotr車pica l芍ser (RAL) y de galgas extensom谷tricas. El sistema presentado aqu赤, es capaz de obtener mediciones tradicionales a trav谷s de galgas extensom谷tricas, simult芍neamente con se ales de RAL, en probetas deformadas microm谷tricamente mediante un control computarizado. Se utiliz車 una plataforma de NITM para el acondicionamiento y procesamiento de se al. El sistema est芍 compuesto de un arreglo 車ptico que posee un modulador fotoel芍stico como dispositivo central para la medici車n de RAL, y de un dispositivo flexor que aplica una deformaci車n a la muestra por medio de un micr車metro. Se encontr車 una correlaci車n de 0.99 entre la se al 車ptica RAL y las mediciones de la galga extensom谷trica. A partir de nuestros resultados, se establece un nuevo procedimiento de no contacto de alta precisi車n para la medici車n de microdeformaciones. Este sistema puede emplearse en materiales met芍licos tradicionales o materiales compuestos, incluyendo nuevas heteroestructuras semiconductoras, donde las galgas extensom谷tricas son dif赤ciles, si no imposible, de aplicar.
%U http://www.redalyc.org/articulo.oa?id=76818405002