%0 Journal Article
%T 场离子显微镜
%A 陆华
%J 现代物理知识
%D 1989
%I 
%X 一、历史的回顾场离子显微镜FieldIon Microscopc(FIM)是一种具有高放大倍数、高分辩率并能在原子级水准上直接观察表面原子的研究装置.它是由比它出现早15年的场发射显微镜Field Electron EmissionMicroscopc(FEM)的发明者E.W.Müller本人改进而成的,在FIM中,当一负电位加到针状样品
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=1C031B2B4922AA5094987D80AEBA807E&aid=DA46BAE90E0DBE4E1091A0920FBF0BBA&yid=1833A6AA51F779C1&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=D3E34374A0D77D7F&eid=340AC2BF8E7AB4FD&journal_id=1001-0610&journal_name=现代物理知识&referenced_num=0&reference_num=0