%0 Journal Article
%T Applications of Time-of-flight Secondary Ion Mass Spectroscopy in the Tribological Studies<br>飞行时间二次离子质谱在摩擦学领域中的应用
%A CONG Pei-hong
%A LI Tong-sheng
%A LIU Xu-jun
%A MORI Shigeyuki
%A <br>丛培红
%A 李同生
%A 刘旭军
%A 森诚之
%J 摩擦学学报
%D 2007
%I 
%X 介绍了二次离子质谱(SIMS)的结构、基本原理、分析特点,特别是飞行时间二次离子质谱在摩擦学研究领域,如对涂层及摩擦反应膜、润滑油添加剂的吸附与反应、硬磁盘/磁头摩擦界面中的应用与进展,指出了飞行时间二次离子质谱分析中存在的问题,希望为摩擦学领域学者在表面分析方面提供一些新的启示.
%K 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
%K 表面分析
%K 摩擦膜
%K 硬磁盘/磁头摩擦学
%K 摩擦化学反应
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=5D344E2AD54D14F8&jid=2F467A5C6371C830162AAA01D7DAD07A&aid=781D081DE67EA65DB334CF8BE2B1A926&yid=A732AF04DDA03BB3&vid=DB817633AA4F79B9&iid=B31275AF3241DB2D&sid=106103EB0EA31435&eid=4158386E7B9422C8&journal_id=1004-0595&journal_name=摩擦学学报&referenced_num=0&reference_num=50