%0 Journal Article
%T 表面包覆纳米In2O3的Z-SCAN测量
%A 吴晓春
%A 赵立
%A 余保龙
%A 陈文驹
%J 科学通报
%D 1996
%I 
%X 半导体纳米材料因其增大的三阶非线性效应和超快速的时间响应成为近些年倍受瞩目的新型非线性材料。Z-SCAN技术是测量材料三阶非线性大小的一种简便而灵敏的方法。本文首次利用Ar~+连续激光Z-SCAN方法测定了用热水解法合成的表面包覆硬脂酸的纳米In_2O_3有机溶胶(用透射电子显微镜测得颗粒平均直径为5nm)的非共振三阶非线性系数X_R~(3)。发现其比体相材料增大了许多,可望使其获得更多的应用。 图1为不同光强下样品的Z-SCAN信
%K 半导体
%K 纳米材料
%K 表面包覆
%K 氧化铟
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=E7434251AF791EC7E69E38620B649750&yid=8A15F8B0AA0E5323&vid=2001E0D53B7B80EC&iid=5D311CA918CA9A03&sid=70081086C74F4110&eid=B5D9C773C430C13C&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=5&reference_num=1