%0 Journal Article
%T Si上Bi2Sr2Ca1Cu2O7-x超导膜分形现象的AFM观察
%A 刘融
%A 钱文生
%A 魏同立
%J 科学通报
%D 1997
%I 
%X 利用射频磁控溅射方法,在Si衬底上用YSZ(Y稳定的ZrO_2)作为缓冲层成功地淀积了Bi_2Sr_2Ca_1Cu_2O_(7-x)(BSCCO)超导膜,其零电阻温度T_c=82K.在利用原子力显微镜(AFM)和透射电子显微镜(TEM)作材料的表面形貌和微结构观察分析时,首次在BSCCO超导膜中观察到了分形晶化,并测得其分形维数d=1.795,本文报道了这一观察结果.
%K 分形
%K BSCCO
%K 薄膜
%K 超导体
%K 硅
%K AFM
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=1B776AC7F3A56B20A36558F4CC8C7F87&yid=5370399DC954B911&vid=ECE8E54D6034F642&iid=DF92D298D3FF1E6E&sid=CA122BD5B2FF2137&eid=E3691231514F8E11&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=1&reference_num=2