%0 Journal Article
%T 实用BiCMOS倒相器可测性设计
%A 叶波
%J 科学通报
%D 1995
%I 
%X BiCMOS电路由于具有Bipolar和CMOS的优点,即高集成度、大驱动能力和高速等优点,而且其工艺与CMOS工艺兼容,在高速和数模混合的集成电路中得到了广泛的应用.但随着集成电路规模的增大,尤其是BiCMOS电路本身的复杂性,测试时间、测试图形生成时间及所需数据量均增加很快,测试成本随之增高,因而研究BiCMOS电路的可测性设计方法是很有必要的.目前,关于BiCMOS电路的可测性设计方法还不多见.Salama与Elmasry提出的方法虽然能够测出电路的常见故障,但这种方法占用芯片面积大,故障覆盖率不高,当电路规模很大时难以使用.
%K BiCMOS
%K 倒相器
%K 可测性设计
%K BiCMOS电路
%K 集成电路
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=DC531F6987E6B0691F6C2DE10E67C850&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=1371F55DA51B6E64&iid=DF92D298D3FF1E6E&sid=C7B13290323C226E&eid=C7B13290323C226E&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=1