%0 Journal Article
%T 变质反应中硅氧键总平均值的变化
%A 叶大年
%A 李哲
%A 赫伟
%J 科学通报
%D 2001
%I 
%X 以X射线单晶结构分析的精测资料为依据，计算了33个变质反应前后的硅氧键总平均值，得出结论：增温趋向使硅氧键长的总平均值减小，而增压趋向使硅氧键长的总平均值增大，这个结论在理论上的意义在于，在硅酸盐体系中，增温趋向使硅氧键的共价性增强，增压趋向使硅氧键的离子性增强。高压下四面体的硅氧键会增长，超高压下四配位的硅会变成六配位，硅氧键会突然大大增长，即硅氧键的总平均随压力增加而增长，是一个由量变到质变的过程。
%K 变质反应
%K 硅氧键长
%K 总平均值
%K 硅酸盐矿物
%K 晶体化学
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=5DFC9E7CB51235D4&yid=14E7EF987E4155E6&vid=D997634CFE9B6321&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=46CB27789995047D&eid=E203FB1A272C9DD2&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=9