%0 Journal Article
%T 光电导方法测量半绝缘GaAs的X射线吸收谱
%A 胡天斗
%J 科学通报
%D 1994
%I 
%X EXAFS(Extended X-ray absorption fine structure)能提供反映原子近邻配位的多种有用的结构信息,近年来已广泛应于固体、液体、催化剂、生物、表面等结构问题的研究.EXAFS实验方法除常用的透射法、荧光法之外,还出现了AEY(Auger electron yield)、TEY(Total electronyield)等等新的测试方法.Sham等测试了溶液的光电导,得到了类EXAFS的振荡.
%K EXAFS
%K 光电导
%K 砷化镓
%K 半绝缘
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=78FF85A894E1560494DD8E5DDE579580&yid=3EBE383EEA0A6494&vid=7C3A4C1EE6A45749&iid=708DD6B15D2464E8&sid=1BE4748776BF02C4&eid=1BE4748776BF02C4&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=0