%0 Journal Article
%T 辐射幽禁效应研究
%A 王润文
%J 科学通报
%D 1987
%I 
%X 辐射在吸收介质中的传输过程,由于吸收与再发射过程存在,一个光脉冲从入射到透出光子曾反复经过吸收、发射、再吸收、再发射……的多次过程。这种辐射幽禁效应会引起脉冲时间分布产生变化。吸收辐射介质的能级的寿命、跃迁几率、介质密度都是产生这一效应的主要因素。因此研究这一问题可搞清楚荧光的时间谱与介质浓度及微观参数的关系,Payne等
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=896E6D51D51FC9284B231A7B25BFD986&yid=9C2DB0A0D5ABE6F8&vid=9971A5E270697F23&iid=94C357A881DFC066&sid=302684F6FB4B24FF&eid=302684F6FB4B24FF&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=0