%0 Journal Article
%T 用EELS和UPS研究非晶碳价电子特性
%A 徐希翔
%J 科学通报
%D 1987
%I 
%X 一、引言 氢化非晶碳(a-C:H)是一种新型的薄膜材料,它不但具有类金刚石的结构和性质,而且能实现掺杂,呈现出较好的半导体特性,因此对这种材料的研究引起了人们极大的兴趣。但对这种材料的微观结构,特别是价电子键合特性和价带结构研究较少。我们运用电子能量损失谱EELS(Electron energy loss spectroscopy)和紫外光电子能谱UPS(ultraviolet photoelectron spectroscopy)等电子能谱测试手段,对a-C:H的价电子特性作了分析研究,并得到了一些有意义的结果。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=3E0BFFCFCFD05EA9F8AD41397B80D3B4&yid=9C2DB0A0D5ABE6F8&vid=9971A5E270697F23&iid=0B39A22176CE99FB&sid=DBF54A8E2A721A6D&eid=DBF54A8E2A721A6D&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=0