%0 Journal Article
%T 用正电子湮没辐射Doppler展宽谱测位错密度和空位浓度
%A 彭郁卿
%J 科学通报
%D 1983
%I 
%X 一、方法由于正电子对物质结构缺陷的极端灵敏性,正电子湮没谱学已经广泛地被人们用来分析金属试样的缺陷。正电子射入金属试样经过热化后,遇到电子就发生湮没,正电子-电子对的静止质量转化为电磁辐射,主要的形式是产生两个发射方向相反、能量各为0.511MeV的γ光
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=8B3443ADC7B5CDC5F02E810C78F33127&yid=A7F20A391020FDEE&vid=D3E34374A0D77D7F&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=BC12EA701C895178&eid=BC12EA701C895178&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=0