%0 Journal Article
%T 质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素
%A 李民乾
%J 科学通报
%D 1979
%I 
%X 质子激发X射线分析(PIXE)是七十年代发展起来的新的元素分析工具。它的特点是以几兆电子伏质子束激发X射线,并以Si(Li)半导体探测器进行X射线能谱测量。 由于质子激发X射线的截面较高,而其韧致辐射又很低,故具有较高的灵敏度;Si(Li)探测器有较好的能量分辨率和较高的探测效率,因此PIXE可同时进行多元素的分析。所以,PIXE能发展为一种快速、灵敏和多元素的分析方法。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=7C7E63796F062382A606A3A9833B8C05&jid=B40D4BA57FF46E45205A09B4DC283152&aid=121B66A600D3CFDF2EA22D079FD8F258&yid=8C8371356FB4C85C&vid=B91E8C6D6FE990DB&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=2A8D03AD8076A2E3&eid=2A8D03AD8076A2E3&journal_id=0023-074X&journal_name=科学通报&referenced_num=0&reference_num=0