%0 Journal Article
%T Effective texture defect detecting method<br>有效的纹理缺陷检测方法：子带共现矩阵法*
%A WEN Zhao lin
%A CHEN Xin
%A LI Ke tian
%A ZHENG De tao
%A <br>温兆麟
%A 陈新
%A 李克天
%A 郑德涛
%J 计算机应用研究
%D 2007
%I 
%X 提出一种结合小波变换与共现矩阵用于纺织品图像缺陷检测的方法.首先将灰度图像分解成子带;然后将纹理图像分割成互不重叠的子窗口,提取共现特征;最后用无缺陷样品训练的Mahalanobis分类器将每一子窗口划分为缺陷的和无缺陷的.应用该算法进行实际工厂环境中的纺织品缺陷检测.实验结果表明,集中处理具有强判决能力的某一频带提高了检测性能,也改善了计算效率.
%K texture defect analysis
%K co-occurrence matrix
%K wavelet filter<br>纹理缺陷分析
%K 共现矩阵
%K 小波滤波器
%K 纹理图像分割
%K 缺陷检测
%K 检测方法
%K 矩阵法
%K method
%K 计算效率
%K 改善
%K 检测性能
%K 频带
%K 能力
%K 判决
%K 集中处理
%K 结果
%K 实验
%K 工厂环境
%K 算法
%K 应用
%K 划分
%K 分类器
%K 训练
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=8240383F08CE46C8B05036380D75B607&jid=A9D9BE08CDC44144BE8B5685705D3AED&aid=C793235A4E87B8F659131733DD842DE3&yid=A732AF04DDA03BB3&vid=B91E8C6D6FE990DB&iid=708DD6B15D2464E8&sid=11B4E5CC8CDD3201&eid=6AC2A205FBB0EF23&journal_id=1001-3695&journal_name=计算机应用研究&referenced_num=0&reference_num=6