%0 Journal Article
%T 红外摄像机可以检测集成电路芯片
%A McCarthy
%A DC 贡树行
%J 红外
%D 2001
%I 
%X 根据莫尔(Moore)定律,半导体集成电路芯片上的晶体管的数量每隔18个月将会增加一倍,这对我们在日常生活中使用电子学线路的大多数人来说,无疑是一个很好的消息.但是,对美国高级微型器件公司的Brennan Davis实验室来说,它意味着"干草堆"变得越来越大,而"针子"变得越来越小(意思是在芯片上寻找故障或缺陷更难,犹如大海捞针-译者注).Davis实验室检测封装的晶体管芯片,以验证那些不合格、有缺陷的逻辑电路,或验证那些接触不良的接点.检测的工具之一是采用由美国Sensors传感器无限公司研制的、基于InGaAs的红外摄像机(红外相机).
%K 红外摄像机
%K 集成电路
%K 芯片
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=3723000AE493FCE650601982177048B1&aid=B1EC38A749792DA3&yid=14E7EF987E4155E6&iid=B31275AF3241DB2D&sid=ECE8E54D6034F642&eid=BE33CC7147FEFCA4&journal_id=1672-8785&journal_name=红外&referenced_num=0&reference_num=0