%0 Journal Article %T HgCdTe photodiode arrays passivated with CdTe Flim
MBE原位碲化镉钝化的碲镉汞长波光电二极管列阵 %A YE Zhen-Hu %A HUANG Jian %A YIN Wen-Ting %A HU Wei-D %A FENG Jing-Wen %A CHEN Lu %A LIAO Qin-Jun %A CHEN Hong-Lei %A LIN Chun %A HU Xiao-Ning %A DING Rui-Jun %A HE Li %A
叶振华 %A 黄建 %A 尹文婷 %A 胡伟达 %A 冯婧文 %A 陈路 %A 廖亲君 %A 陈洪雷 %A 林春 %A 胡晓宁 %A 丁瑞军 %A 何力 %J 红外与毫米波学报 %D 2011 %I Science Press %X 首次在国内报道了分子束外延(MBE)技术原位碲化镉(CdTe)钝化的碲镉汞(HgCdTe)长波(LW)n -on-p型红外光电二极管列阵的研究成果。基于采用MBE技术在表面生长CdTe介质膜的p型HgCdTe材料,并通过离子注入区的光刻、暴露HgCdTe表面的窗口腐蚀、注入阻挡层硫化锌(ZnS)的生长、形成p-n结的B 注入、注入阻挡层的去除、绝缘介质膜ZnS的生长、金属化和铟柱列阵的制备等工艺,得到了原位CdTe钝化的n -on-p平面型HgCdTe红外光电二极管列阵。从温度为78K的电流与电压(I-V)和动态阻抗与电压(R-V)特性曲线中,发现原位CdTe钝化的光电二极管列阵的零偏动态阻抗比非原位CdTe钝化的提高了1~2倍,零偏压附近的反向偏压位置的动态阻抗极大值甚至提高了30~40倍。因而,对于工作在反向小偏压附近的光电二极管列阵而言,原位CdTe钝化方法非常有利于提高长波光电二极管的探测性能。 %K 碲镉汞 %K 分子束外延 %K 原位碲化镉钝化 %K 动态阻抗 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=D3B4F771D1A06062008B4D0A2EF05996&aid=5A63F5AD7FC6A6797F58AD58FDBD133F&yid=9377ED8094509821&vid=340AC2BF8E7AB4FD&iid=B31275AF3241DB2D&sid=DDDA4F26E8AD3C0E&eid=E3C3E274D87A8C16&journal_id=1001-9014&journal_name=红外与毫米波学报&referenced_num=0&reference_num=0