%0 Journal Article
%T STUDY ON TEST METHOD OF TDI FUNCTION FOR INFRARED FOCAL PLANE ARRAY CMOS READOUT CIRCUITS<br>红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法研究
%A CHEN Zhong-Jian
%A LU Wen-Gao
%A TANG Ju
%A ZHANG Ya-Cong
%A JI Li-Jiu
%A <br>陈中建
%A 鲁文高
%A 唐矩
%A 张雅聪
%A 吉利久
%J 红外与毫米波学报
%D 2008
%I Science Press
%X 给出了一种新颖的红外焦平面CMOS读出电路TDI功能的测试方法.该方法通过在电测试MOS场效应晶体管栅极施加不同波形的方波激励信号,观察输出电压波形的对应变化,验证TDI功能的信号延迟和累加操作是否正确.应用该方法实际测试了一款TDI型红外焦平面CMOS读出电路,各种激励模式下测试得到的输出波形均与预计的理想输出波形吻合,证明该测试方法可行,且简单、直观、有普适性.
%K 时间延迟积分
%K 测试方法
%K 读出电路
%K 红外焦平面
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=D3B4F771D1A06062008B4D0A2EF05996&aid=60D9A4C0234CBE19936400E8A55F4B21&yid=67289AFF6305E306&vid=DB817633AA4F79B9&iid=94C357A881DFC066&journal_id=1001-9014&journal_name=红外与毫米波学报&referenced_num=0&reference_num=8