%0 Journal Article
%T STRIP-LINE测量技术在Ⅳ-Ⅵ族半导体远红外磁光光谱中的应用
%A 陆卫
%A M.vonOrtenberg
%A W.Dobrowolski
%J 红外与毫米波学报
%D 1992
%I Science Press
%X 描述了Strip-Line测量技术及其原理.深入讨论了Strip-Line技术在实际应用中模式耦合问题.从实验和理论两方面显示了模式耦合问题在应用Strip-Line技术研究Ⅳ-Ⅵ族铅化物半导体远红外磁光性质中的重要性.
%K 铅化物半导体
%K 远红外
%K 磁光光谱
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=D3B4F771D1A06062008B4D0A2EF05996&aid=A2057BB976B8891DBC85F96F5D98530B&yid=F53A2717BDB04D52&vid=708DD6B15D2464E8&iid=94C357A881DFC066&journal_id=1001-9014&journal_name=红外与毫米波学报&referenced_num=0&reference_num=0