%0 Journal Article
%T SPECTROSCOPIC STUDY OF CARBON FILM USED FOR GROWING OF TELLURIDE CRYSTALS<br>用涂碳石英管生长碲化物晶体的工艺分析
%A Zhang Suying
%A Liu Pulin
%A Shen Jie
%A <br>张素英
%A 刘普霖
%J 红外与毫米波学报
%D 1997
%I Science Press
%X 用经内壁涂碳膜的石英坩埚生长ＰｂＴｅ，ＣｄＴｅ和ＨｇＣｄＴｅ等的Ⅱ～Ⅳ族和Ⅳ～Ⅵ族化合物晶体，由Ｘ射线光电子能谱仪（ＸＰＳ），原子吸收光谱和高频红外碳硫分析技术分析了多组涂碳和未涂碳、用和未用长晶的石英管内壁及相应的晶体表面，结果表明牢固的碳膜不会对生长晶体引进明显的碳沾污，可以避免石英同生长晶体的粘连．
%K PbTe
%K CdTe
%K HgCdTe
%K crystal growth
%K impurity contamination
%K XPS<br>PbTe，CdTe，HgCdTe，晶体生长，杂质沾污，XPS
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=D3B4F771D1A06062008B4D0A2EF05996&aid=76DDD033259936E51EAAEBA7A51F660B&yid=5370399DC954B911&vid=7801E6FC5AE9020C&iid=E158A972A605785F&sid=4D7D059FFBF006B9&eid=FDC7AF55F77D8CD4&journal_id=1001-9014&journal_name=红外与毫米波学报&referenced_num=0&reference_num=0