%0 Journal Article
%T 表面粗糙样品吸收系数的测量研究Ⅱ.硅片的实验结果
%A 吴华生
%A 吴仲墀
%A 钱佑华
%J 红外与毫米波学报
%D 1985
%I Science Press
%X 本工作依据文献1]的理论,从实验上最后得出了表面粗糙样品的透射率、反射率与特征粗糙度、吸收系数及波长的具体函数关系,并验证了文献1]提出的某些关键性的结论,及用透、反射结合方法测量表面粗糙样品参数的可行性。在实际应用中,透、反射结合法所测吸收系数与其他方法所测结果符合较好。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=D3B4F771D1A06062008B4D0A2EF05996&aid=1F19FEFD05BD19EF7CBC1FFDEC954E0A&yid=74E41645C164CD61&vid=E158A972A605785F&iid=94C357A881DFC066&journal_id=1001-9014&journal_name=红外与毫米波学报&referenced_num=0&reference_num=0