%0 Journal Article
%T Normal Incidence Two-mirror Reflecting Systems Designed at EUV and X-ray<br>极紫外与X射线波段正入射两镜反射系统的研究(英文)
%A SHEN Zheng-xiang
%A MU Bao-zhong
%A WANG Zhan-shan
%A WANG Li
%A MA Bin
%A JI Yi-qin
%A LIU Hua-song
%A <br>沈正祥
%A 穆宝忠
%A 王占山
%A 王利
%A 马彬
%A 季一勤
%A 刘华松
%J 光子学报
%D 2009
%I 
%X 基于三级象差理论,分析了几何象差对正入射望远镜性能的影响,总结了弥散斑角宽度θ随着系统f数和半视场角uP的变化趋势.弥散斑的角宽度θ随着半视场角uP的增大而增大,随着系统f数的增大而减小.当f数小于10或者半视场角uP大于0.005弧度时,弥散斑角宽度θ变化比较剧烈.详细讨论了四种典型的反射系统,Dall-Kirkham系统和反Dall-Kirkham系统的弥散斑角宽尺寸在一个数量级上,大约为卡塞格林系统的十倍.R-C系统的弥散斑角宽最小,几乎是卡塞格林系统的十分之一.通过本文的结论公式可以估算一个光学系统的象差尺寸并避免进行光线追迹.
%K Third order aberration theory
%K EUV and X-ray
%K Reflecting systems
%K Geometrical aberrations
%K Angular blur spot<br>三级象差理论
%K 极紫外与X射线
%K 反射系统
%K 几何象差
%K 弥散斑角宽
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=9F6139E34DAA109F9C104697BF49FC39&aid=2A1A86C84542A6A7D444355E30F6A4F6&yid=DE12191FBD62783C&vid=16D8618C6164A3ED&iid=0B39A22176CE99FB&sid=5A735990D5DE8BF4&eid=396DD691E964F390&journal_id=1004-4213&journal_name=光子学报&referenced_num=0&reference_num=13