%0 Journal Article
%T Investigation of the Connection Accuracy of the Sub-aperture Optical Testing with Experiment<br>子孔径光学检测拼接准确度实验研究
%A CAO Zhao-liang
%A HU Wu-sheng
%A MU Quan-quan
%A HU Li-fa
%A PENG Zeng-hui
%A LIU Yong-gang
%A XUAN Li
%A <br>曹召良
%A 胡五生
%A 穆全全
%A 胡立发
%A 彭增辉
%A 刘永刚
%A 宣丽
%J 光子学报
%D 2008
%I 
%X 实验研究了子孔径光学检测的拼接准确度.实验选取9个子孔径进行拼接,同时利用ZYGO干涉仪来测量子孔径和整个被检面的表面面形.实验发现,测量基准子孔径和整个被检面的时间间隔对子孔径拼接准确度的评价存在严重影响.为此,重点研究了产生影响的原因并提出了消除测量基准子孔径和整个被测面时间间隙影响的方法.最后,利用该方法研究了子孔径重叠面积对拼接准确度的影响.结果显示,当重叠面积比为7%时,PV和RMS的拼接误差分别为0.03λ(λ=632.8 nm) 和 0.01λ,并且重叠面积比和拼接准确度呈近似线性关系.
%K Sub-aperture
%K Optical testing
%K Connection accuracy<br>子孔径
%K 光学检测
%K 拼接准确度
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=9F6139E34DAA109F9C104697BF49FC39&aid=DC63FE31D3E3B86B0C2F5BD9E79CDC5B&yid=67289AFF6305E306&vid=42425781F0B1C26E&iid=B31275AF3241DB2D&sid=603BC00D7DC5FEAC&eid=72EB001A9B3C78CE&journal_id=1004-4213&journal_name=光子学报&referenced_num=0&reference_num=16