%0 Journal Article
%T 纳米云纹法条纹倍增技术研究
%A 刘战伟
%A 谢惠民
%A 方岱
%A 戴福隆
%A 王卫
%A 方炎
%J 光子学报
%D 2005
%I 
%X 提出了一种纳米云纹法的条纹倍增技术,可用于单晶材料纳米级变形测量.在测量中,单晶材料的晶格结构由透射电镜(TEM)采集并记录在感光胶片上作为试件栅,几何光栅作为参考栅.对纳米云纹条纹的形成原理,透射电镜放大倍数与试件栅的频率关系,条纹倍增技术,位移、应变测量方法等进行了详细讨论.该方法不仅能够测量连续力学参量,如应变和位移,而且能够表征纳观非连续参量,如位错、夹杂.
%K 纳米云纹法
%K 倍增技术
%K 晶格
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=9F6139E34DAA109F9C104697BF49FC39&aid=7E7278896BFB2F18676F6F5B5435422B&yid=2DD7160C83D0ACED&vid=339D79302DF62549&iid=9CF7A0430CBB2DFD&sid=0407E07CB2FA770D&eid=1E0D46E7B42E2E81&journal_id=1004-4213&journal_name=光子学报&referenced_num=4&reference_num=11