%0 Journal Article
%T ANALYSIS OF THE TESTING EQUIVALENCE OF BIT ERROR CHAKACTEKlSTICS FOR MAGNETO-OPTICAL DISKS<br>磁光盘原始误码特性测试中的等效性问题分析
%A Cao Danhua
%A Wu Yubin
%A Ruan Yu
%A <br>曹丹华
%A 吴裕斌
%J 光子学报
%D 1995
%I 
%X 在磁光盘原始误码特性测试过程中通常采用记“１”测漏码，或记“０”测冒码的方法测试盘片的误码性能。本文侧重分析了介质膜缺陷导致盘片产生误码的原因，建立了读出畸变信号与介质膜缺陷参量的数学模型。
%K Magneto
%K optical storage
%K Defect
%K Signal distortion
%K Bit error<br>磁光存储
%K 缺陷
%K 信号畸变
%K 误码
%K 磁光盘
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=9F6139E34DAA109F9C104697BF49FC39&aid=BE83A8E289EAA09FCE962B79808F93F3&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=B91E8C6D6FE990DB&iid=B31275AF3241DB2D&sid=C4BBAD7A2DCC89BC&eid=AE43DE0664B02889&journal_id=1004-4213&journal_name=光子学报&referenced_num=1&reference_num=2