%0 Journal Article
%T Field emission microscopy study of the work function of single-walled carbon nanotubes<br>用场发射显微镜测量单壁碳纳米管的逸出功
%A Zhang Zhaoxiang
%A Sun Jianping
%A Hou Shimin
%A Zhao Xingyu
%A Shi Zujin
%A Gu Zhennan
%A Liu Weimin
%A Xue Zengquan
%A <br>张兆祥
%A 孙建平
%A 侯士敏
%A 赵兴钰
%A 施祖进
%A 顾镇南
%A 刘惟敏
%A 薛增泉
%J 电子与信息学报
%D 2002
%I 
%X 该文利用场发射显微镜对单壁碳纳米管的逸出功进行了研究和测量，未进行加热除气的单壁碳纳米管的表面吸附大量气体。此时测量的逸出功不是清洁表面单壁碳纳米管的逸出功，实验首先加热除气得到单壁碳纳米管的场发射清洁像，然后利用场发射显微镜测量I-V曲线，得到Fowler-Nordheim直线斜率；再利用透射电镜观测单壁硕纳米管微束形貌像，测量管束半径，通过三种公式估算比例因子β，最后计算得到单壁碳纳米管的逸出功。
%K Field emission
%K Field emission microscopy
%K Single-walled carbon nanotubes
%K Work function<br>场发射显微镜
%K 单壁碳纳米管
%K 逸出功
%K FEM
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=EFC0377B03BD8D0EF4BBB548AC5F739A&aid=72DDDAEF1D69B802&yid=C3ACC247184A22C1&vid=B91E8C6D6FE990DB&iid=708DD6B15D2464E8&sid=387FB6C3BA4B6547&eid=6B11F480D189254A&journal_id=1009-5896&journal_name=电子与信息学报&referenced_num=0&reference_num=23