%0 Journal Article
%T ELECTROOPTIC SIMPLING OF INTERNAL MICROWAVE SIGNALS IN GaAsCOPLANAR WAVEGUIDES<br>砷化镓共面波导内部微波信号的电光取样检测
%A Jia Gang
%A Yi Maobin
%A Sun Wei
%A Cao Jie
%A Sun Jianguo
%A Wang Jiasheng
%A Qin Li
%A Gao Dingsan
%A <br>贾刚
%A 衣茂斌
%A 孙伟
%A 曹杰
%A 孙建国
%A 王佳生
%A 秦莉
%A 高鼎三
%J 电子与信息学报
%D 1995
%I 
%X 本文报道了共轴反射式电光取样系统。该系统时间分辨率不低于20ps,空间分辨率不低于3μm。用它检测了砷化镓共面波导内部的微波信号。这套系统将被应用于砷化镓高速集成电路内部特性的在片检测。
%K Electrooptic sampling
%K High-speed integrated circuits
%K Coplanar waveguides
%K On-wafer tests
%K Picosecond optical pulses<br>电光取样
%K 高速集成电路
%K 共面波导
%K 在片检测
%K 皮秒光脉冲
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=EFC0377B03BD8D0EF4BBB548AC5F739A&aid=AEB0688D5D0BF93C5BC89810DEAEE7CB&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=BCA2697F357F2001&iid=0B39A22176CE99FB&sid=2BA123C6EB9D54C2&eid=1E41DF9426604740&journal_id=1009-5896&journal_name=电子与信息学报&referenced_num=0&reference_num=5