%0 Journal Article
%T 行波谐振环在测试TR开关管中的应用
%A 符春久
%A 柯锦松
%A 王芳惠
%A 董国忠
%J 电子与信息学报
%D 1979
%I 
%X 用行波谐振环的谐振方法将功率放大若干倍后,对TR开关管或其他微波元件进行高功率模拟测试的突出优点是,使用较低的微波功率源就能够进行高功率测试。这样的方法既方便又经济。在国外,应用这种方法早已相当普遍,不仅用于测试元件,而且还用在微波加热、考贝烘干和电子加速器等方面。在国内,则还没有见到有关这方面的工作和报道。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=EFC0377B03BD8D0EF4BBB548AC5F739A&aid=7C328EE54CF1F52E&yid=8C8371356FB4C85C&vid=CA4FD0336C81A37A&iid=38B194292C032A66&sid=A020552C37306588&journal_id=1009-5896&journal_name=电子与信息学报&referenced_num=0&reference_num=2