%0 Journal Article
%T 实边微通道板炸裂原因的分析
%A 潘晚成
%J 光子学报
%D 1985
%I 
%X 本文从表面能理论出发、从理论上推论出实边微通道板腐蚀后炸裂的根本原因是产生了收缩现象,并通过实验测试也证实了这一现象,从而为改进实边微通道板的制板工艺提出了理论和实验依据。
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=9F6139E34DAA109F9C104697BF49FC39&aid=E8B05454CC317EA66AAFA5DB082AAECD&yid=74E41645C164CD61&vid=F3583C8E78166B9E&iid=38B194292C032A66&sid=4AD960B5AD2D111A&eid=7C3A4C1EE6A45749&journal_id=1004-4213&journal_name=光子学报&referenced_num=0&reference_num=0