%0 Journal Article %T A 150% enhancement of PMOSFET mobility using hybrid orientation
采用混合晶向实现PMOSFET迁移率提升了150% %A Tang Zhaohuan %A Tan Kaizhou %A Cui Wei %A Zhang Jing %A Zhong Yi %A Xu Shiliu %A Hao Yue %A Zhang Heming %A Hu Huiyong %A Zhang Zhengfan %A Hu Gangyi %A
唐昭焕 %A 谭开洲 %A 崔伟 %A 张静 %A 钟怡 %A 徐世六 %A 郝跃 %A 张鹤鸣 %A 胡辉勇 %A 张正璠 %A 胡刚毅 %J 半导体学报 %D 2012 %I %X 本文提出了一种基于混合晶向硅材料的高性能PMOSFET 器件。采用硅玻键合、化学机械抛光、硅刻蚀和非选择性外延等方法,成功制作了集成有(100)和(110)晶向的混合晶向硅片。基于这种混合晶向材料,成功研制了沟道宽长比为50:8 的PMOSFET器件,器件测试结果表明:制作在(110)晶向上的PMOSFET 器件在低场条件下,电流驱动能力提高了50.7%,最大迁移率增加了150%,是当前见于报道的PMOSFET迁移率提升指标较高的一颗器件。 %K hybrid orientation %K non-selective expitaxy %K carrier mobility %K (110) crystal orientation %K PMOSFET %K chemical mechanical polishing
混合晶向 %K 非选择性外延 %K 载流子迁移率 %K (110)晶向 %K PMOSFET %K 化学机械抛光 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=649CF1A01F52D57155B0774DCE2F7371&yid=99E9153A83D4CB11&vid=27746BCEEE58E9DC&iid=B31275AF3241DB2D&sid=3D87B8A29CE460E7&eid=E158A972A605785F&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=7