%0 Journal Article
%T A low noise multi-channel readout IC for X-ray cargo inspection<br>一种用于X射线货物检测的低噪声多通道读出IC
%A Wang Xu
%A Yang Hongyan
%A Yuan Ying
%A Wu Wuchen
%A <br>王旭
%A 杨洪艳
%A 袁颖
%A 吴武臣
%J 半导体学报
%D 2013
%I 
%X 介绍了一种用于X射线货物检测的低噪声多通道读出IC。此多通道读出IC提供了32通道将探测器电流转换成模拟电压的电路，它具有15位的最大动态范围，由积分器增益选择、时序发生器、移位寄存器链、积分器阵列、采样保持放大器等组成。此芯片采用0.6 μm 的标准CMOS工艺进行制造，裸片面积为2.7 mm x 13.9 mm，工作在1 MHz，5 V供电和4.096 V参考电压下的功耗为100 mW。测试表明在63 pF的积分器增益电容和440 pF的光电二极管结电容下的输出噪声达到了85 μVrms，钢板穿透厚度超过了400 mm。
%K low noise
%K multi-channel readout IC
%K dynamic range
%K X-ray cargo inspection<br>低噪声
%K 多通道读出IC
%K 动态范围
%K X射线货物检测
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=DFEDDF274BE1BF80E32C4709A58F2CAA&yid=FF7AA908D58E97FA&vid=339D79302DF62549&iid=E158A972A605785F&sid=6489793651CE1800&eid=B31275AF3241DB2D&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=8