%0 Journal Article
%T A Failure-Mechanism Identification Method in Accelerated Testing<br>加速试验中失效机理一致性的判别方法
%A Guo Chunsheng
%A Xie Xuesong
%A Ma Weidong
%A Cheng Yaohai
%A Li Zhiguo
%A <br>郭春生
%A 谢雪松
%A 马卫东
%A 程尧海
%A 李志国
%J 半导体学报
%D 2006
%I 
%X 通过对电子器件加速试验失效模型--Arrhenius模型的研究,发现加速试验过程中,失效机理不发生改变时,电子器件失效敏感参数的退化速率与施加应力的负倒数遵从指数关系,从而提出了一种加速试验失效机理一致性的判定方法.对样品3DG130进行了150～310℃的序进应力加速试验,快速得到了失效机理一致的应力范围,验证了该方法的可行性.
%K accelerated testing
%K failure mechanism
%K identification<br>加速试验
%K 失效机理
%K 一致性
%K 加速试验
%K 失效机理
%K 一致性
%K 判别方法
%K Testing
%K Method
%K 验证
%K 应力范围
%K 快速
%K 样品
%K 判定方法
%K 指数关系
%K 退化速率
%K 敏感参数
%K 器件失效
%K 电子器件
%K 发生
%K 过程
%K 发现
%K 研究
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=F021C9FBF69FB0A3&yid=37904DC365DD7266&vid=DB817633AA4F79B9&iid=38B194292C032A66&sid=A3F93694B058F76C&eid=8DBE05486163BAB2&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=6