%0 Journal Article
%T Effect of Cu-Excess on the Electrical Properties of CuxAlO2 (1≤x≤1.06)<br>铜过量对CuxAlO2(1≤x≤1.06)电学性能的影响
%A Deng Zanhong
%A Fang Xiaodong
%A Tao Ruhu
%A Dong Weiwei
%A Li Da
%A Zhu Xuebin
%A <br>邓赞红
%A 方晓东
%A 陶汝华
%A 董伟伟
%A 李达
%A 朱雪斌
%J 半导体学报
%D 2008
%I 
%X 采用溶胶.凝胶法制备了铜铁矿结构CuxAlO2陶瓷体材.当1≤x＜1.04时,样品为纯铜铁矿相,当x≥1.04时,样品中出现了微弱的CuO相.样品Cu1.04AlO2的室温电导率比名义组分CuAlO2大了近一个数量级.研究表明,替位式缺陷CuAl(Cu2 离子取代Al3 离子)是导致电导增加的主要受主缺陷机制,Cu过量CuxAlO2的分子式可更准确地表示为Cu(Al1-yCuy)O2.
%K sol-gel processes
%K p-type transparent conducting oxide
%K CuAlO2<br>溶胶.凝胶法
%K P型透明导电氧化物
%K CuAlO2
%K sol-gel
%K processes
%K p-type
%K transparent
%K conducting
%K oxides
%K CuAlO2
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=4FB3F6FCD10DC24F0B19F4646AE7B9CA&yid=67289AFF6305E306&vid=771469D9D58C34FF&iid=B31275AF3241DB2D&sid=33C2C2DAF31F219B&eid=0C7160AA184DEC96&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=21