%0 Journal Article
%T Laplace缺陷谱方法研究
%A 詹华瀚
%A 康俊勇
%A 黄启圣
%J 半导体学报
%D 1997
%I 
%X 本文讨论了研究半导体缺陷深能级瞬态谱中遇到的多指数分解问题，并使用共轭梯度计算法对瞬态谱进行数值Laplace逆变换处理来实现多指数瞬态的分解．结果表明，此方法具有较高的分辨率，而且存储和计算量较小，适用于进行常规的深能级瞬态精细结构测量．
%K 半导体缺陷
%K 深能级
%K 瞬态谱
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=384D4871A5508930&yid=5370399DC954B911&vid=13553B2D12F347E8&iid=DF92D298D3FF1E6E&sid=4A2356A1257A12EB&eid=C4490A71BEB872FA&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=1&reference_num=2