%0 Journal Article
%T HgCdTe块晶不完整性的X射线双晶衍射研究
%A 施天生
%A 朱南昌
%A 沈杰
%A 方家熊
%J 半导体学报
%D 1995
%I 
%X 利用高精度Ｘ射线双晶衍射术，研究了碲熔剂法生长的Φ１５ｍｍ的Ｈｇ０．８Ｃｄ０．２Ｔｅ块晶片的结构不完整性，发现工艺大致相同的块晶晶体完整性差别十分明显，但它们的晶格不完整性沿径向的分布具有共同特征─呈Ｗ形，这表明晶格不完整性与晶体生长或退火处理过程中的应力场有关．
%K HgCdTe
%K X射线
%K 双晶衍射
%K 外延生长
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=87CCE5B53EB492BF&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=7801E6FC5AE9020C&iid=9CF7A0430CBB2DFD&sid=B28C697BC3A1BA62&eid=5AE7FA263C8A6D65&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=2