%0 Journal Article
%T 双极运算放大器的辐射效应和退火特性
%A 陆妩
%A 任迪远
%A 郭旗
%A 余学锋
%A 范隆
%A 张国强
%A 严荣良
%J 半导体学报
%D 1998
%I 
%X 本文介绍了ＯＰ－０７双极运算放大器的６０Ｃｏγ射线、不同能量电子和质子的辐照试验以及６０Ｃｏγ和电子辐射损伤在室温和１００℃高温条件下的退火效应，揭示了双极运算放大器电参数对不同射线的辐照响应规律；研究了不同辐射源对双极运算放大器的不同辐射损伤机理；并对质子辐照损伤程度与能量的依赖关系以及质子辐照损伤同６０Ｃｏγ和电子辐照损伤的差异进行了探讨．结果表明，界面态的产生是６０Ｃｏγ和电子辐照损伤的主要原因，而位移效应造成的体损伤在质子辐照效应中占有重要地位．
%K 运算放大器
%K 双极型
%K 辐射效应
%K 退火
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=29B11252117F0716&yid=8CAA3A429E3EA654&vid=2A8D03AD8076A2E3&iid=94C357A881DFC066&sid=5F8BAECF36EB55E2&eid=A7AE820C12CC9AD3&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=2&reference_num=1