%0 Journal Article
%T 稀磁半导体Cd_(1-x)Mn_xS磁化率的研究
%A 陈辰嘉
%A 瞿明
%A 胡巍
%A 张昕
%A 马可军
%A W.Giriat
%J 半导体学报
%D 1992
%I 
%X 用振动样品磁强计和提拉法在1.5K≤T≤300K温度范围内系统测量了组分为0.03≤x≤0.45的Cd_(1-x)Mn_xS稀磁半导体单晶样品的磁化率.磁化率测量表明在高温区服从居里-外斯定律。从定量分析得到Mn~(++)离子间交换积分常数值.低场磁化率与温度变化规律(最低温度达1.5K)表明当样品x≤0.2时,体系仍然为顺磁态;而当样品组分x=0.3时,经零场冷却后磁化率在温度T_f处观测到一个尖峰,对x>0.3样品亦得到类似结果,只是磁化率在不同冻结温度T_f处对应一个较宽的峰。这些结果说明在低温区发生从顺磁态到自旋玻璃态的相变.文中给出Cd_(1-x)Mn_sS的磁相图并对此作了讨论.
%K 稀磁半导体
%K 磁化率
%K 测量
%K 磁相图
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=3529BF668140398B784493CA4CFEA7DC&yid=F53A2717BDB04D52&vid=FC0714F8D2EB605D&iid=5D311CA918CA9A03&sid=D0E8F9CBDBE0070C&eid=8C5DE51F0A009A0F&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=2