%0 Journal Article
%T Global Optimization for an IC Parametric Yield Based on the Minimum Mapping Distance Method<br>IC参数成品率全局优化的映射距离最小化算法
%A Jing Ming''''e
%A Li Kang
%A WANG Junping
%A Hao Yue
%A <br>荆明娥
%A 李康
%A 王俊平
%A 郝跃
%J 半导体学报
%D 2005
%I 
%X 提出了一种新的集成电路参数成品率的全局优化算法--映射距离最小化算法.该算法采用了均匀设计与映射距离最小的耦合优化,每次迭代模拟次数很少,优化过程明显加速.另外,给出了一种粗略估计空间点集均匀性的方法--k近邻密度估计,在有效时间内判断一个空间点集的均匀性.模拟结果表明,该算法对集成电路进行快速成品率优化设计及提高电路设计的稳定性具有较好的应用价值.
%K parametric yield
%K mapping distance
%K uniform design
%K kNN density estimation<br>参数成品率
%K 映射距离
%K 均匀设计
%K k近邻密度估计
%K 参数成品率
%K 全局优化
%K 映射距离
%K 最小化算法
%K Method
%K Distance
%K Mapping
%K Minimum
%K Based
%K Yield
%K Parametric
%K Optimization
%K 价值
%K 应用
%K 稳定性
%K 电路设计
%K 优化设计
%K 快速
%K 模拟结果
%K 判断
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=699C3797B2D7FF7B&yid=2DD7160C83D0ACED&vid=96C778EE049EE47D&iid=B31275AF3241DB2D&sid=BE411C407DAF4824&eid=08DDB398556FE547&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=9