%0 Journal Article
%T 纳米硅薄膜表面形貌分形特征的STM研究
%A 万明芳
%A 魏希文
%A 李建军
%A 邹赫麟
%A 袁凯华
%A 何宇亮
%J 半导体学报
%D 1995
%I 
%X 利用扫描隧道显微镜（ＳｃａｎｎｉｎｇＴｕｎｎｅｌｉｎｇＭｉｃｒｏｓｃｏｐｅ，简称ＳＴＭ）对纳米硅薄膜在纳米尺度上的表面微观形貌进行了研究，结合分形理论，计算出样品表面形貌的分形维数Ｄ，从而得出Ｄ与有关样品微结构参数之间的关系．ＳＴＭ结合图象处理和傅利叶分析法可以很好地研究薄膜材料表面形貌的分形特征．纳米硅薄膜的表面在纳米尺度上的微观形貌呈现出分形特征．
%K 纳米硅薄膜
%K 表面形貌
%K 分形
%K STM
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=BF2EBEF2FA07C874&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=7801E6FC5AE9020C&iid=59906B3B2830C2C5&sid=3D9E2C3DB640307A&eid=753F7A67351FADCC&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=2&reference_num=7