%0 Journal Article
%T 差值取样谱函数定理及其在研究MOS陷阱弛豫效应方面的应用
%A 许铭真
%A 谭长华
%A 王阳元
%J 半导体学报
%D 1992
%I 
%X 本文利用Rolle定理证明了一个差值取样谱函数定理.阐明了,只要陷阱弛豫原函数满足这个定理的必要条件,则其差值取样转换函数——弛豫谱函数就一定具有谱峰特征.这个定理也为差分取样谱技术提供了相应的数学模型。给出了几个例证.
%K 电参数
%K 差值取样
%K MOS
%K 弛豫效应
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=5109577816409264&yid=F53A2717BDB04D52&vid=FC0714F8D2EB605D&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=95D537AC89B28832&eid=8BD23BD67BF01A5C&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=1&reference_num=7