%0 Journal Article
%T 用椭圆偏振光谱法研究溅射无定形硅的光学性质
%A 陈树光
%A 叶贤京
%A 莫党
%J 半导体学报
%D 1982
%I 
%X 利用椭圆偏振光谱仪测定了无定形硅在可见光范围的光学常数.对不同工艺条件下由射频溅射制备的无定形硅样品进行测量,获得了n-λ、k-λ关系的数据,并由此计算出光学能隙、介电常数和反射率.文中还比较和讨论了本实验结果与别人用反射率法测得的蒸发制备无定形硅的结果.
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=ED17763A272FF35B202F87F77C661E5E&yid=3F3D540C9B7906DE&vid=38B194292C032A66&iid=CA4FD0336C81A37A&sid=EA389574707BDED3&eid=340AC2BF8E7AB4FD&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0