%0 Journal Article
%T K_(CMR)的一个测试方法
%A 李光宇
%J 半导体学报
%D 1984
%I 
%X 本文简略地分析了运算放大器的共模传输特性,推导出共模抑制比的定义测试法,即失调电压法测K_(CMR). 通过误差理论分析,将此法与IEC(国际电工委员会)规定的两种方法进行了比较,证明失调电压法测K_(CMR)优于通常使用的两种方法.
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=1841597ED9159D02&yid=36250D1D6BDC99BD&vid=94C357A881DFC066&iid=E158A972A605785F&sid=FB36B1C076A263FA&eid=522844664D9E629A&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0