%0 Journal Article
%T MNOS电容的辐照吸收特性
%A 刘毓耿
%A 易清明
%A 刘竞云
%J 半导体学报
%D 1995
%I 
%X 本文报告ＭＮＯＳ存储电容的辐照吸收规律与电容对存储电荷的保留特性之间有一定的内在联系：在ＳｉＯ２膜辐照响应的集总常数保持不变时，样品对存储电荷的保留能力越强，则辐照响应的敏感剂量越往小剂量方向移动．
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=FE35D548100DA069&yid=BBCD5003575B2B5F&vid=7801E6FC5AE9020C&iid=94C357A881DFC066&sid=09D368C679EC819B&eid=9EF602EA28138BEA&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0