%0 Journal Article
%T 应用电子辐照技术控制功率开关晶体管少子寿命的研究
%A 柴天恩
%A 乔健
%A 麦淑贤
%A 郑继义
%A 常保延
%J 半导体学报
%D 1987
%I 
%X 本文以高压大功率开关晶体管的电子辐照实验为基础,探讨了辐照对器件少子寿命、直流电流放大系数、饱和压降、开关时间的影响.研究结果表明:精确控制电子注量可以精确控制少子寿命,并且,适当注量的辐照可以兼顾晶体管的各电参数,从而简化了设计工作,并使器件开关特性得到显著的改善.
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=1319827C0C74AAE8D654BEA21B7F54D3&jid=025C8057C4D37C4BA0041DC7DE7C758F&aid=EF6861A750120DC21B6F5844C90B93DE&yid=9C2DB0A0D5ABE6F8&vid=5D311CA918CA9A03&iid=38B194292C032A66&sid=86C0C9A759FDA8CA&eid=A5B34D9E8FDA439A&journal_id=1674-4926&journal_name=半导体学报&referenced_num=0&reference_num=0