%0 Journal Article
%T 不同成因断层岩中石英的透射电镜(TEM)显微构造特征及其成因意义探讨
%A 杨主恩
%A 林卓然
%A 陈希成
%J 岩石学报
%D 1985
%I 
%X 引言近十几年来,透射电子显微镜(TEM)在地质科学方面的应用越来越广(Wenk, H. R.et al. 1976; 何永年,1980)。尤其是对矿物的显微结构和构造的研究,已成为不可缺少的手段。结合高温高压岩石力学实验技术,利用TEM对实验变形岩石中各种矿物的显微构造特征所进行的许多研究(Morrison-Smith, D. J. et al, 1976; Kekulawla, K. R. S. S. et
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=E62459D214FD64A3C8082E4ED1ABABED5711027BBBDDD35B&cid=621CF755B1A341E5&jid=2013B5467E3054B1614CEC199353FCED&aid=354D1E60B13BC8135613DC20AF895622&yid=74E41645C164CD61&vid=CA4FD0336C81A37A&iid=0B39A22176CE99FB&journal_id=1000-0569&journal_name=岩石学报&referenced_num=0&reference_num=0