%0 Journal Article
%T Research on the three-parameter technical risk quantification model for R&D project<br>研发项目技术风险度的三参数量化模型研究
%A XING Jun-wen
%A CHI Bao-shan
%A LIU Feng
%A <br>邢俊文
%A 迟宝山
%A 刘锋
%J 系统工程理论与实践
%D 2008
%I 
%X 针对研发项目中最为关键的技术风险量化难题,为确保该类项目目标的成功实现,研究并提出了技术风险事件量化指标的体系结构、等级标准和量化方法,建立了基于风险事件发生可能性、后果影响和可控性的多级递阶层状结构的技术风险三参数量化模型,并应用该模型对某研发项目进行了案例分析与验证,从而得到了解决技术风险量化难题的理想模型与有效方法.该模型综合考虑技术风险的评价与应对,引入可控性指标,并提出了基于技术创新TRIZ理论的可控性量化方法.该结论有助于准确把握项目的技术风险状态,也从理论与实践上促进了技术风险管理决策的科学化.
%K 研发项目
%K 技术风险
%K 三参数
%K 量化模型
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=01BA20E8BA813E1908F3698710BBFEFEE816345F465FEBA5&cid=962324E222C1AC1D&jid=1D057D9E7CAD6BEE9FA97306E08E48D3&aid=826432E9ABA9F3F06F439EF3C73465EC&yid=67289AFF6305E306&vid=D3E34374A0D77D7F&iid=F3090AE9B60B7ED1&sid=6DE26652A1045643&eid=205BE674D84A456D&journal_id=1000-6788&journal_name=系统工程理论与实践&referenced_num=1&reference_num=7