%0 Journal Article
%T Effect of Microstructure on Ambient Temperature Fatigue Short Crack-Growth Behavior in Sialon<br>显微结构对Sialon陶瓷室温疲劳短裂纹扩展行为的影响
%A JIANG Dan-Yu
%A SHI Jian-Lin
%A LAI Ting-Rong
%A YAN Dong-Sheng
%A <br>蒋丹宇
%A 施剑林
%A 来亭荣
%A 严东生
%J 无机材料学报
%D 1998
%I Science Press
%X 本文采用不同相组成和不同显微结构的。α-β-Sialon复相陶瓷作为对比试样，以压痕裂纹模拟陶瓷材料本身固有的微小裂纹，通过四点弯曲试样，在相同力学参数条件下，结合扫描电子显微镜对疲劳断口的观察，研究了α-β-Sialon复相陶瓷的室温疲劳短裂纹扩展现象和微观机理．研究发现，长柱状β-Sialon晶粒含量多、长径比大的材料具有较高抵抗疲劳失效的能力·此外，疲劳断口表明，α-β-Sialon复相陶瓷疲劳短裂纹扩展的机制主要有：应力腐蚀、摩擦造成的晶粒桥接弱化和接触损伤．
%K microstructure
%K Sialon
%K fatigue short crack-growth behavior<br>显微结构
%K Sialon复相陶瓷
%K 疲劳短裂纹扩展行为
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=5B3AB970F71A803DEACDC0559115BFCF0A068CD97DD29835&cid=84529CA2B2E519AC&jid=ABC0063016AF57E1C73EF43C8D2212BD&aid=EB290F7852E805EDC84A9E5F04C37EED&yid=8CAA3A429E3EA654&vid=FC0714F8D2EB605D&iid=94C357A881DFC066&sid=DC06EBDBAF4E06D3&eid=47122BA7BE181C5A&journal_id=1000-324X&journal_name=无机材料学报&referenced_num=0&reference_num=15