%0 Journal Article
%T Dielectric property of binary phase composite and its interface investigated by electric force microscope<br>静电力显微镜研究二相材料及其界面介电特性
%A Sun Zhi
%A Wang Xuan
%A Han Bai
%A Song Wei
%A Zhang Dong
%A Guo Xiang-Yu
%A Lei Qing-Quan
%A <br>孙志
%A 王暄
%A 韩柏
%A 宋伟
%A 张冬
%A 郭翔宇
%A 雷清泉
%J 物理学报
%D 2013
%I 
%X 利用静电力显微镜(EFM)研究了二相材料不同区域的介电特性. 制备了高定向石墨/聚乙烯、云母/聚乙烯等层叠状二相材料复合物, 在EFM相位检测模式下观测二相材料过渡界面处, 可以发现二相材料中介电常数较大的材料会引起较大的相位滞后角Δθ该相位滞后角正切值tan(Δθ) 与探针电压VEFM存在二次函数关系, 且函数二次项系数与样品的介电常数存在增函数关系, 进而可在微纳米尺度下区分不同微区域内材料的介电常数差异. 研究表明EFM 可用于对材料介电特性的微纳米尺度测量, 这对分析复合材料二相界面区域特性有积极意义.
%K electric force microscope
%K interface
%K dielectric constant<br>静电力显微镜
%K 界面
%K 介电常数
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=96293AEB9294B34D5BC4614B8728D688&yid=FF7AA908D58E97FA&iid=38B194292C032A66&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=0