%0 Journal Article
%T Luminescence and optical constant of ZnSe/SiO2 composite thin films<br>ZnSe/SiO2复合薄膜光学常数与荧光光谱的研究
%A Jiang Hai-Qing
%A Yao Xi
%A Che Jun
%A Wang Min-Qiang
%A <br>姜海青
%A 姚 熹
%A 车 俊
%A 汪敏强
%J 物理学报
%D 2006
%I 
%X 采用溶胶-凝胶工艺与原位生长技术，制备了ZnSe/SiO2复合薄膜.X射线衍射分 析表明薄膜中ZnSe晶体呈立方闪锌矿结构.X射线荧光分析结果显示薄膜中Zn与Se摩尔比为1 ∶1.01—1∶1.19.利用场发射扫描电子显微镜观察了复合薄膜的表面形貌，结果表明复合薄 膜表面既存在尺寸约为400nm的ZnSe晶粒，也存在尺寸小于100nm的ZnSe晶粒.利用椭偏仪测 量了薄膜椭偏角Ψ，Δ与波长λ的关系，采用Maxwell-Garnett有效介质理论对薄膜的光学 常数、厚度、气孔率、ZnS
%K ZnSe/SiO2 composite thin films
%K optical properties
%K ellipsometry
%K lum inescence<br>ZnSe/SiO2复合薄膜，
%K 光学性质，
%K 椭偏光度法，
%K 荧光光谱
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=2AED304DDA164425&yid=37904DC365DD7266&vid=E514EE58E0E50ECF&iid=E158A972A605785F&sid=E213125423CD99CD&eid=B5034D16D8C9EE45&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=15