%0 Journal Article %T INVESTIGATION OF THE LIGHT HOLE IN p-TYPE Hg1-xCdxTe
p-Hg1-xCdxTe材料中轻空穴的性质研究 %A JIANG CHUN-PING %A GUI YONG-SHENG %A ZHENG GOU-ZHEN %A MA ZHI-XUN %A WANG SHAN-LI %A HE LI %A CHU JUN-HAO %A
蒋春萍 %A 桂永胜 %A 郑国珍 %A 马智训 %A 王善力 %A 何 力 %A 褚君浩 %J 物理学报 %D 2000 %I %X 通过变磁场霍尔测量方法,采用由迁移率谱和多载流子拟合过程相结合的混合电导法,在12-300K范围内,获得了两块分子束外延(MBE)生长的p-Hg1-xCdxTe(x=0224)样品中的轻、重空穴以及体电子、表面电子的浓度和迁移率.此外,在实验中,还直接观察到了轻空穴对电导张量分量的贡献.实验值不仅具有明确的物理意义,而且有助于红外探测器模型的建立. %K 红外探测器 %K HgCdTe %K 轻空穴 %K 红外光学材料 %U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=780D11F4F83CB977323B72D4C635699E&yid=9806D0D4EAA9BED3&vid=2A3781E88AB1776F&iid=94C357A881DFC066&sid=4986C0B14AED27B4&eid=5357CC5E80802025&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=0&reference_num=3