%0 Journal Article
%T Study of resistivity and thermopower of La2-xSrxCuO4 thin films<br>La2-xSrxCuO4单晶膜的热电势与电阻率
%A Yu Min
%A Yang Hong-Shun
%A Ruan Ke-Qing
%A Li Peng-Cheng
%A Li Hui-Ling
%A Cai Yi-Sheng
%A Cao Lie-Zhao
%A <br>余旻
%A 杨宏顺
%A 阮可青
%A 李鹏程
%A 李慧玲
%A 柴一晟
%A 曹烈兆
%J 物理学报
%D 2002
%I 
%X 测量了高质量的单晶膜La2-xSrxCuO4(x=010,020,025)的电阻率和热电势.La19Sr01CuO4电阻率呈现S型行为,表明存在一个赝能隙,在赝能隙态可以用公式ρ=ρ0+βexp(-ΔT)很好地拟合.热电势的测量表明,在超导转变前样品的残余热电势值非常小,这是膜的高质量引起的,三个样品在200K以上都出现一个宽峰,对其进行了一些理论模型分析,并与电子型超导体热电势结果作了比较.
%K thin film
%K transport property
%K thermopower<br>薄膜
%K 输运性质
%K 热电势
%U http://www.alljournals.cn/get_abstract_url.aspx?pcid=6E709DC38FA1D09A4B578DD0906875B5B44D4D294832BB8E&cid=47EA7CFDDEBB28E0&jid=29DF2CB55EF687E7EFA80DFD4B978260&aid=2913715F4C7698BC&yid=C3ACC247184A22C1&vid=987EDA49D8A7A635&iid=38B194292C032A66&sid=46FF101E7ECF9F15&eid=06DAE5E1DF7D0B6A&journal_id=1000-3290&journal_name=物理学报&referenced_num=1&reference_num=21